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Palas SMPS扫描电迁移率粒径谱仪

发布日期:2021-03-02 点击:

Palas SMPS扫描电迁移率粒径谱仪


 

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先进的纳米颗粒测量系统

 

Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪是先进的纳米颗粒测量系统,可测量4nm1200nm的气溶胶粒径分布,不仅能够提供准确可靠的粒径分析和计数功能,而且高达256原始通道能够实现高粒径分辨率。SMPS全系列多组合满足不同浓度、粒径分布范围气溶胶分析需求;桌面式简便操作,易上手;连接方便,可灵活搭载各种预处理装置(如稀释装置等);开放式数据文件,读取和分析便捷;可实现自检测和校准;超强兼容性和灵活性,可以跟市场主流计数器兼容等。

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U-SMPS 2050X/2100X/2200X

Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本,可以确定 4 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器,代替放射性中和器(例如使用 Kr-85),从而在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。Palas® U-SMPS 系统包括一个分类器 [ ISO15900 中定义为电迁移率分级器(DEMC),也称为微分迁移率分析仪(DMA],可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器(例如 UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的 UF-CPC 型号可在各种浓度范围内实现最佳的单颗粒计数。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授(IfTLeipzig,德国)开发的演算算法,将测量数据转化为 U-SMPS 的颗粒分布。

 

U-SMPS 使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短 30 秒之内执行,并且每十进制多达 64 个尺寸通道。在扫描期间,DEMC 分类器中的电压连续变化,以使每个尺寸通道的计数效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值),以及导出功能。U-SMPS 通常作为独立设备运行,但也可以连接到计算机或使用各种接口(USBLANWLANRS-232 / 485)连接网络。 Palas®U-SMPS 可配置 DMACPC 和其他制造商的气溶胶静电计。

 

产品优势

· 粒径分布范围为 4nm 1.2μm

· 连续快速扫描测量原理;

· 高分辨率,最多 128 个尺寸通道 / 十进制;

· 适用于高达 10^8 颗粒 / cm^3 的浓度;

· 跟其他制造商的 DMA 和纳米颗粒计数器通用;

· 图形显示测量结果;

· 7 英寸触摸屏和 GUI 直观操作;

· 内置数据记录仪;

· 支持多种接口和远程访问;

· 低维护;

· 功能可靠;

· 减少您的运营费用

 

典型应用

· 过滤测试;

· 气溶胶研究;

· 环境与气候研究;

· 吸入实验;

· 室内和工作场所测量

 


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